GB/T 13388-2009 Método de medición de la orientación cristalográfica de planos en rodajas y obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X

Número estándar: GB/T 13388-2009
Chino:硅片参考面结晶学取向X射线测试方法
EspañolMétodo de medición de la orientación cristalográfica de planos en rodajas y obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X

Fecha de entrada en vigor:2010-06-01
Autoridad Reguladora:Administración Nacional de Normalización de China
Autoridad Reguladora Emisora:Administración General de Supervisión de Calidad, Inspección y Cuarentena de la República Popular China,中国Administración Nacional de Normalización de China

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