GB/T 24582-2023 Método de ensayo para medir el contenido de impurezas metálicas superficiales del silicio policristalino-Método de espectrometría de masas con plasma de acoplamiento inductivo y extracción de ácido

Número estándar: GB/T 24582-2023 (GB/T24582-2023)
Chino:多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法
EspañolMétodo de ensayo para medir el contenido de impurezas metálicas superficiales del silicio policristalino-Método de espectrometría de masas con plasma de acoplamiento inductivo y extracción de ácido

Fecha de entrada en vigor:2024-03-01
Autoridad Reguladora:Administración Nacional de Normalización de China
Autoridad Reguladora Emisora:Administración Estatal de Supervisión y Administración del Mercado,Administración Nacional de Normalización de China

Cumpre com normas internacionais:N
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