GB/T 4937.4-2012 Dispositivos semiconductores – Métodos de ensayo mecánicos y climáticos – Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, ensayo de esfuerzo altamente acelerado (HAST)

Número estándar: GB/T 4937.4-2012
Chino:半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
EspañolDispositivos semiconductores – Métodos de ensayo mecánicos y climáticos – Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, ensayo de esfuerzo altamente acelerado (HAST)

Fecha de entrada en vigor:2013-02-15
Autoridad Reguladora:Ministerio de Industria y Tecnología de la Información（电子）
Autoridad Reguladora Emisora:Administración General de Supervisión de Calidad, Inspección y Cuarentena de la República Popular China,中国Administración Nacional de Normalización de China

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