Número estándar: SJ/T 11706-2018(SJ/T11706-2018)
Chino:半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
Español:Métodos de ensayo de matrices de puertas programables en campo de circuitos integrados semiconductores
Fecha de entrada en vigor:2018-04-01
Alcance estándar:
Descargable en PDF: N
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