Número estándar: SJ/T 2658.9-2015(SJ/T2658.9-2015)
Chino:半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角
Español:Métodos de medición de los diodos semiconductores emisores de infrarrojos – Parte 9: Distribución espacial de la intensidad de radiación y ángulo de media intensidad
Fecha de entrada en vigor:2016-04-01
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