Número estándar: YB/T 172-2020(YB/T172-2020)
Chino:硅砖定量相分析 X射线衍射法
Español:Análisis cuantitativo de fase de ladrillos de sílice Método de difracción de rayos X
Fecha de entrada en vigor:2021-04-01
Alcance estándar:Esta norma especifica el principio del análisis cuantitativo de fase de α-cuarzo en ladrillos de sílice método de difracción de rayos X, instrumentación, muestra estándar, preparación de la muestra, el establecimiento de la curva estándar, pasos de prueba, resultados y cálculos e informes de ensayo. Esta norma se aplica al análisis cuantitativo de fase de α-cuarzo en ladrillos de sílice, y el análisis cuantitativo de fase de cuarzo escamoso y cuarzo en ladrillos de sílice también puede referirse a esta norma.
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