Número estándar: YS/T 644-2007(YS/T644-2007)
Chino:铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量
Español:Método de película delgada para aleaciones de platino y rutenio Espectrometría de fotoelectrones de rayos X Determinación del contenido de platino aleado y rutenio aleado
Fecha de entrada en vigor:2007-10-01
Alcance estándar:
Descargable en PDF: N
Puede hacer clic en el botón de abajo para comprar la versión en PDF, y se la enviaremos por correo electrónico.Haga clic abajo para comprar la versión impresa. Enviado por FedEx en 7 días. Reembolso completo si está agotada.
Si se encuentra con los siguientes problemas, por favor haga clic aquí para contactarnos, haremos todo lo posible para ayudarlo.
1. No puede encontrar el documento estándar que busca en nuestro sitio web.
2. Ha encontrado el documento estándar, pero nuestra página indica que no se puede descargar en formato PDF.
3. Necesita comprar nuestra versión traducida.
