Número estándar: YS/T 679-2018(YS/T679-2018)
Chino:非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
Español:Comprobación de las longitudes de difusión de portadores minoritarios en semiconductores no intrínsecos Método fotovoltaico de superficie
Fecha de entrada en vigor:2019-04-01
Alcance estándar:
Descargable en PDF: N
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