Número estándar: SJ/T 11210-1999(SJ/T11210-1999)
Chino:石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
Español:Medida de los parámetros de los elementos de cristal de cuarzo – Parte 4: Método de medida de la frecuencia resonante de carga fL y de la resistencia resonante de carga RL de los elementos de cristal de cuarzo hasta 30MHz y cálculo de otros parámetros derivados.
Fecha de entrada en vigor:1999-12-01
Alcance estándar:
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